La mesure de la réponse en basse fréquence peut se faire dans une pièce réverbérante en plaçant le microphone proche du diaphragme. L'article fondateur de cette méthode est celui de Keele : Low-Frequency Loudspeaker Assessment by Nearfield Sound-Pressure Measurement""
Keele démontre la formule suivante :
$$ P_F =\frac{a}{2 r} P_N$$
dans laquelle :
- $P_N$ est la mesure de pression nearfield
- $P_F$ est la mesure de pression farfield (celle qui nous interesse)
- $a$ est le rayon de la source émettrice (diaphragme)
- $r$ est la distance entre la source et le point de mesure farfield
Dans le cas d'un bass reflex, il faut sommer toutes les sources, c'est à dire provenant du diaphragme et des évents. La formule devient :
$$ P_F = \frac{a}{2 r} P_{N} + \sum_{i=1}^{n}\frac{a_i}{2 r} P_{Nvi} $$
avec :
- $n$ le nombre d'évent
- $P_{Nvi}$ la mesure de pression nearfield de l'évent $i$
- $a_i$ le rayon de l'évent $i$
$$ P_F = \frac{a}{2 r} (P_{N} + n \sqrt{\frac{S_v}{S_d}} P_{Nv}) $$
avec :
- $S_d$ surface du diaphragme
- $S_v$ surface d'un évent
L'équation :
$$n \sqrt{\frac{S_v}{S_d}}=1$$
se résout en :
$$S_{Tv} = \frac{S_d}{n}$$
avec $ S_{Tv}$ la surface totale des évents.
Autrement dit, si vous choisissez par exemple de placer 3 évents et si vous vous faites en sorte que la surface totale de ces trois évents vaille le tiers de la surface du diaphragme, alors pour calculer la pression totale farfiled de l'enceinte, vous n'avez qu'à sommer la pression nearfiled du diaphragme et celle d'un des évents sans appliquer la moindre correction sur cette dernière.
Cdl
Jean
